芯片恒溫恒濕測試箱0℃150L 恒溫恒濕試驗箱

芯片恒溫恒濕測試箱0℃150L可以把多個試驗條件編定成多個程序讓它們自主按人工設定的指令不停的循環(huán)試驗。

常用于航天太空、國防工業(yè)、自動車部品、塑化工業(yè)、光纖、精密電感、晶體、PCB、LED、LCD電子零組件、食品業(yè)、制藥工業(yè)、半導體電腦周邊組件及各相關產品之研發(fā)、品質管理工程之測試規(guī)范。

芯片恒溫恒濕測試箱0℃150L的規(guī)格參數：(除了以下標準尺寸柳沁還可以為大家定制非標尺寸）

LQ-TH-80試驗箱內尺寸（W*D*H）mm:400*400*500。

LQ-TH-150試驗箱內尺寸（W*D*H）mm: 500*500*600。

LQ-TH-225試驗箱內尺寸（W*D*H）mm: 600*500*750。

LQ-TH-408試驗箱內尺寸（W*D*H）mm: 600*800*850。

LQ-TH-800試驗箱內尺寸（W*D*H）mm: 1000*800*1000。

LQ-TH-1000試驗箱內尺寸（W*D*H）mm:1000*1000*1000。

2、恒濕濕度范圍：20%～98%R.H。

3、恒溫溫度范圍可選：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃。

4、解析精度：溫度：0.01℃；濕度：0.1%R.H。

5、溫度波動度：±0.5℃。

6、溫度均勻度：±2℃。

7、升溫速率：約3℃/min（從低溫升到高溫、非線性空載）。

8、降溫速率：0.75℃-1℃/min（從高溫降到低溫、非線性空載）。

9、本試驗箱可模擬高溫恒溫、低溫恒溫、高溫恒濕、濕熱交變等不同環(huán)境氣候的測試條件，搭配容易操作和學習的高準確性編程系統，提供 測試性能條件，廣泛適用于電工、電子、電器、LED、汽車配件、手機、儀器儀表及其它產品零部件在高低溫濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，確定上述產品對高低溫及濕熱環(huán)境的耐溫耐濕適應性檢測。